芯片測試高低溫沖擊儀

芯片測試高低溫沖擊儀常用于測試工業(yè)產(chǎn)品(塑料、金屬、電子、電器、玩具、生活用品、家庭用具、辦公用品)等等一些試件在恒定的溫度環(huán)境中使用、運輸、放置后其強度變化的試驗,也叫提前預(yù)測部分物品的抗老化程度試驗.此設(shè)備在規(guī)定的溫度范圍內(nèi)可隨意恒定任意溫度,也可交變循環(huán)試驗.經(jīng)常用于研究或鑒定高分子材料耐老化性能的一種人工加速熱老化試驗，也可用來研究或?qū)嶒炌扑隳承└叻肿硬牧系氖褂脡勖唾A存期。它是將試驗物品暴露于熱空氣環(huán)境中，經(jīng)受熱空氣(高溫)的作用，按預(yù)定時間檢測試樣的性能變化，從而評定各種工業(yè)產(chǎn)品的高低溫老化性能。高低溫老化試驗條件必須根據(jù)材料性能、使用條件及試驗?zāi)康囊蠹右源_定。

芯片測試高低溫沖擊儀型號及參數(shù)：

AP-GD-80 (A/B/C/D)  內(nèi)箱:寬400×高500×深400(CM)

AP-GD-120(A/B/C/D)  內(nèi)箱:寬500×高600×深400(CM)

AP-GD-150(A/B/C/D)  內(nèi)箱:寬500×高600×深500(CM)

AP-GD-225(A/B/C/D)  內(nèi)箱:寬500×高750×深600(CM)

AP-GD-408(A/B/C/D)  內(nèi)箱:寬800×高600×深850(CM)

AP-GD-800(A/B/C/D)  內(nèi)箱:寬1000×高1000×深800(CM)

AP-GD-1000(A/B/C/D) 內(nèi)箱:寬1000×高1000×深1000(CM)

以上型號的老化試驗箱容積分別：80升、120升、150升、225升、408升、800升、1000升

以上型號溫度范圍可以選擇分別：A：0℃～150℃，B：-20℃～150℃，C：-40℃～150℃，D：-70℃～150℃

以上型號的所有設(shè)備溫度均勻度：≤±2℃

以上型號的所有設(shè)備溫度波動度：≤±0.5℃

以上型號的所有設(shè)備升溫速率: 1.0～3.0℃/min

以上型號的所有設(shè)備降溫速率: 1.0～1.3℃/min

愛佩公司生產(chǎn)的高低溫老化試驗箱采用數(shù)控機床加工成型，外觀造型美觀大方、技術(shù)新穎并采用節(jié)能先進技術(shù)及無反作用把手，節(jié)能省電具操作安全簡便等優(yōu)勢.

試驗箱門內(nèi)裝有大型觀測視窗并附節(jié)能照明燈保持箱內(nèi)明亮供客戶隨時可觀察內(nèi)部測試情況，且采用雙層玻璃再加可加溫降溫除霧功能,清晰明亮,安全可靠。設(shè)有獨立限溫報警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動中斷，保證實驗安全運行不發(fā)生意外。試驗箱箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔，內(nèi)箱采用不銹鋼（SUS304）板或304B氬弧焊制作而成，箱體外箱材質(zhì)采用A3鋼板噴塑。再加上控制系統(tǒng)采用微電腦溫度全觸控控制器，控溫度更可靠。