半導(dǎo)體高低溫測試實驗箱與半導(dǎo)體高低溫沖擊試驗箱均是常用于半導(dǎo)體行業(yè)及半導(dǎo)體產(chǎn)品、材料、配件做在瞬間下經(jīng)*溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。

溫度循環(huán)沖擊試驗機(jī)性能參數(shù)參考如下：（可非標(biāo)定制） 高溫室儲溫的升溫時間：30min （+25℃～+200℃）。 低溫室儲溫的降溫時間：65min （+25℃～-75℃）。

led高低溫溫度沖擊機(jī)技術(shù)性能: 溫度分布均勻度:±2℃ 溫度波動度:±0.5℃ 溫度恢復(fù)時間:3～5min 高溫區(qū)預(yù)熱溫度升溫時間:150℃/30min,150℃/40min,150℃/40min,150℃/40min

全自動高低溫沖擊試驗箱滿足的試驗方法有：SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式；GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；GJB360.7-87溫度沖擊試驗；GJB150.5-86溫度沖擊試驗；IEC68-2-14_試驗方法N_

低溫金屬沖擊試驗機(jī)型號及技術(shù)參數(shù)如下：（分別是寬×高×深） （mm） 保溫材質(zhì)：耐高溫高密度氯基乙醋泡沫絕緣體材料 控制器：愛佩采用“TEMI”或“OYO”牌

沖擊試驗低溫儀器機(jī)械結(jié)構(gòu): 1.測試樣品置于盤架，藉由氣壓缸直線驅(qū)動蓄熱區(qū)或蓄冷區(qū)之閥門，以動作需要打開DAMPER，引導(dǎo)冷熱氣流導(dǎo)入測試箱內(nèi) ，而達(dá)到快速冷熱沖擊之效果，平衡調(diào)溫控制 系統(tǒng)（TBHC）+特殊設(shè)計送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng) ，以P.I.D.方式控制S.S.R. , 使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量 , 故能長期穩(wěn)定的使用。